Progettazione grafica di sistemi, le novità della NI Week 2014

Dalla rivista:
Automazione e Strumentazione

 

Questa estate è andato in scena ad Austin in Texas il tradizionale appuntamento annuale della NI Week, l’evento dedicato alla progettazione grafica dei sistemi.

Nell’edizione di quest’anno è stata presentata l’ultima release di LabView – LabView 2014 – che introduce nuove funzionalità indirizzate a migliorare l’esperienza d’uso in tutte le applicazioni, dall’acquisizione dati, all’analisi, alla visualizzazione per “prendere decisioni con il supporto dei dati reali”. Vi invitiamo a vedere il video dimostrativo all’indirizzo http://www.ni.com/labview/whatsnew/i/.

L’ultima versione di LabView include 13 caratteristiche per ottimizzare la produttività del codice e offre nuovi strumenti come il sistema LabSocket di Bergmans Mechatronics che fornisce accesso remoto alle applicazioni LabView dal desktop o da browser web mobile, senza la necessità di plug-in del browser o di un motore run-time lato client.

LabView 2014 supporta il nuovo sistema di acquisizione dati CompactDAQ a 4 slot e CompactRIO, oltre agli strumenti progettati via software come l’oscilloscopio a 8 canali ad alta risoluzione PXI Express e al Virtualbench, il nuovo strumento all-in-one software-based presentato poche settimane fa.

Altra novità è il nuovo controller CompactDAQ a 4 slot che integra processore, condizionamento di segnale e I/O in un solo sistema, consentendo a ingegneri e tecnici di ridurre i costi e la complessità del sistema incrementando l’accuratezza delle misure.

Il controller CompactDAQ è spinto da un processore Intel Atom dual-core che può funzionare sia con Windows Embedded 7 o con NI Linux Real-Time per la massima affidabilità di sistema. In tal modo gli utilizzatori possono integrare il codice di sistemi di misura già esistenti nei nuovi controller.

“Abbiamo progettato il nuovo controller CompactDAQ sulla base dei feedback ricevuti dai clienti, rendendolo più compatto, meno costoso e più robusto”, ha affermato Stefanie Breyer, direttore R&D per l’acquisizione dati di NI. “Grazie al processore Intel Atom 3800 all’interno del controller, i nostri clienti possono ottenere elaborazioni potenti e misure accurate”.

Terza novità è il lancio della nuova serie di sistemi per i test automatizzato basati su PXI NI Semiconductor Test System (STS).

L’architettura modulare aperta di STS consente di integrare nei sistemi di test, tradizionalmente chiusi, anche la strumentazione PXI esistente. Tutto ciò si rivela particolarmente importante per il test RF e a segnale misto, dal momento che le esigenze delle ultime tecnologie di semiconduttori oltrepassano spesso la copertura di test fornita dall’ATE tradizionale.

La serie STS include tre modelli diversi chiamati T1, T2 e T4, che includono rispettivamente, una, due e quattro chassis PXI.

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