ELETTRONICA
applicazioni
Maggio 2014
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Automazione e Strumentazione
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del test stesso che non sarà semplicemente la
somma di quanto ottenibile singolarmente dai
due. Facendo interagire le due tecniche si pos-
sono infatti creare condizioni di test favore-
voli che altrimenti sarebbe impossibile avere:
ad esempio, mediante l’eccitazione dei probe
previsti per il test funzionali si possono gene-
rare pattern di test che possono essere verifi-
cati dalla catena Boundary Scan e, mediante
Boundary Scan, si possono attivare parti di
circuito che verranno poi verificate dalla parte
funzionale.
L’efficacia di un approccio integrato non è
quindi solo quella di avere una doppia tipologia
di test in un unico dispositivo, ma di migliorare
il test stesso che diviene più affidabile e sciuro.
L’approccio integrato consente quindi di rag-
giungere:
- Copertura totale di tutti i circuiti del Dut
(analogici e digitali) e di tutte le net.
- Tempistiche di test inferiori: oltre al fatto che
sequenze del test Boundary Scan e funzionale
andranno in parallelo, occorre anche conside-
rare il tempo di carico e scarico del Dut nel
banco di test, che ovviamente raddoppia nel
caso in cui si debbano usare due banchi.
- Elevate prestazioni di programmazione in-
system.
- Diagnostica dei guasti migliore e più accu-
rata, con una reportistica unica.
Per lo sviluppo di un sistema di test integrato
National Instruments
e
XJTAG
hanno a cata-
logo dei potenti tool che permettono di avere
a disposizione sia tutto l’hardware necessario
all’interfacciamento, sia gli ambienti di svi-
luppo per le sequenze di test. La scheda PXI
di XJTAG, infatti, consente l’interfacciamento
alla catena Boundary inserendo semplicemente
il modulo all’interno di un cestello PXI di
National Instruments che può essere equipag-
giato con i numerosi moduli hardware svilup-
pati da National Instruments adatti all’applica-
zione di test funzioanle specifica.
Anche se lo sviluppo della sequenza di test
Boundary va effettuata con il tool specifico
(l’ambiente XJTAG developer), la sequenza
generata può non solo essere associata con la
sequenza del test funzionale sviluppata in Test-
Stand di National Instruments, ma è possibile
gestire congiuntamente le parti delle sequenze
che prevedono l’interazione tra le due tipologie
di test. In questo modo, una volta sviluppate e
correlate le sequenze funzionali e Boundary,
l’interfaccia operatore sarà unica.
Scegliendo una piattaforma modulare e custo-
mizzabile come quelle sviluppate da
6TL
che
consentono una facile integrazione dei diversi
tipi di
hardware
, anche di terze parti, si potrà
avere
un unico banco facilmente upgradabile
e configurabile
che integri il test funzionale e
Boundary, migliorando non solo l’affidabilità
del test stesso, ma velocizzandolo con costi
d’investimento decisamente più contenuti.
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Interfaccia operatore unica
sviluppata da Ipses
Piattaforma di test modulare 6TL-
22 e schema del concetto modulare
con cui è possibile assemblare le
diverse parti
