ELETTRONICA
applicazioni
Maggio 2014
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Automazione e Strumentazione
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Contrariamente a ciò che accade implemen-
tando test ICT e funzionale, dove è quasi
obbligatorio avere due differenti stazioni di
test, in questo caso è possibile integrare tutto
in un unico banco: infatti, dato che le connes-
sioni richieste per accedere in Boundary Scan
a una scheda sono solo quattro per ogni catena
Boundary, è sufficiente aggiungere quattro
aghi per integrare il Boundary Scan in una
fixture
funzionale.
Ipses
, grazie all’esperienza nello sviluppo di
dispositivi e interfacce per il test funzionale,
ICT e Boundary Scan, ha perciò iniziato a svi-
luppare fixture e banchi di test che integrano
entrambe le tecnologie, fornendo dispositivi
completi con costi e tempi di sviluppo concor-
renziali. L’unione del test funzionale a quello
Boundary Scan su un unico sistema porta
numerosi e notevoli benefici: non solo i due
sono complementari e quindi la loro combi-
nazione consente di coprire vicendevolmente
le aree in cui sarebbero carenti, ma il loro uso
integrato aumenta l’affidabilità e l’efficacia
Fixture Ipses che integra in un unico dispositivo test funzionale e test Boundary Scan.
A sinistra la fixture con inserito il Dut, a destra dettaglio dell’interno della fixture
in cui si sono integrati sia i dispositivi per il test funzionale (schede YAV della 6TL) e
interfaccia XJTAG per il testing in Boundary Scan
Schede PXI di XJTAG per il test Boundary Scan e cestello PXI
di National Instrumets equipaggiato con moduli hardware
Sequenza Boundary con XJTAG Developer, sequenza
funzionale con NI TestStand
υ
