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Settembre 2017
Automazione e Strumentazione
TEST E MISURA
primo piano
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hanno fatto registrare una rapida evoluzione per
quanto riguarda le funzionalità di analisi, l’u-
tilizzabilità delle interfacce e le prestazioni alle
alte frequenze. Quali vantaggi reali comporta
l’utilizzo di uno strumento di analisi di nuova
generazione in ambito industriale?
D’Amore:
“Negli ultimi anni
abbiamo assistito ad un’accele-
razione nello sviluppo di nuovi
strumenti e metodologie di mi-
sura per testare i componenti e
i segnali che vengono utilizzati
nei sistemi elettronici di nuo-
va generazione. Questo trend è
evidente soprattutto nel mercato
delle telecomunicazioni dove
stiamo assistendo ad una con-
tinua evoluzione e rivoluzione
delle tecnologie utilizzate e con-
seguentemente la necessità di
aggiornare gli standard di misu-
ra molto più velocemente che in passato.
Spesso gli strumenti di vecchia generazione, svi-
luppati prima degli standard di oggi, non sono in
grado di effettuare le misurazioni necessarie. Inol-
tre, gli standard più recenti richiedono misurazioni
più complesse e più lunghe rispetto al passato, che
se fatte con strumenti non all’altezza, risultano
molto lunghe e in alcuni casi non corrette.
Un esempio calzante è quello dell’analizzatore di
spettro. Nel passato recente, quando i segnali erano
fondamentalmente analogici, l’analisi di spettro si
limitava ad una misura di potenza correlata alla fre-
quenza di trasmissione. Oggigiorno, con l’avvento
del digitale, l’informazione contenuta nel segnale
è molto più complessa di un semplice livello di
potenza. Per questo motivo non si parla più di ana-
lisi spettrale, ma di analisi del segnale. A seconda
del segnale infatti, la routine di misura cambia note-
volmente e quindi lo strumento deve essere molto
più flessibile che nel passato per misurare corret-
tamente e velocemente le caratteristiche richieste.
In sintesi, utilizzare strumenti di analisi di nuova
generazione permette di misurare più accurata-
mente, in maniera più veloce e conformemente ai
più moderni standard di misura”.
Pedale:
“La tipologia di test di sistemi fisici sta
cambiando rapidamente poiché anche i sistemi di
misura stanno evolvendo velocemente. Questo
abbrevia i tempi di installazione, riduce i costi di
collegamento ai sensori e migliora l’accuratezza
delle misure, creando nuove sfide con la gestione
della sincronizzazione e dei sistemi, sfruttando
specialmente le moderne tecnologie per il network
industriale. Per più di dieci anni, gli ingegneri
hanno utilizzato la piattaforma CompactDaq con
LabView per creare sistemi Daq customizzati al
fine di soddisfare i requisiti delle loro applicazioni.
Grazie agli investimenti di NI sulle ultime tecnolo-
gie nell’ambito della sincronizzazione e comunica-
zione, i nuovi chassis CompactDaq vanno incontro
alle necessità presenti e future delle applicazioni di
test e misura distribuite, garantendo alte prestazioni
e sistemi Daq robusti che acquisiscono dati da sen-
sori altamente distribuiti. Per tale motivo abbiamo
introdotto la nuova sincronizzazione time-based
sviluppata secondo gli ultimi standard Ethernet,
facendo seguito all’impegno di NI sul Time Sen-
sitive Networking (TSN) e l’hardware Compact-
Daq per misure distribuiti su larga scala. NI sta
lavorando attivamente alla definizione del TSN,
la nuova evoluzione dello standard Ethernet IEEE
802.1, per garantire sincronizzazione temporale
distribuita, bassa latenza e convergenza del traffico
di rete time-critical e generico. Le caratteristiche
e i benefici sono: accurati tempi di sincronizza-
zione sulla rete che elimina la necessità di lunghi
cablaggi e assicura misure fortemente sincronizzate
per analisi e correlazioni sempre più accurate; sem-
plice interconnessione daisy-chain con un integrato
switch di rete per una configurazione rapida e per
fornire un’espansione ad applicazioni distribuite;
operazioni affidabili in ambienti ostili con un range
di temperatura tra i -40 °C e i 70 °C, resistenza agli
urti fino a 50 g e resistenza alle vibrazioni fino a
5 g; astrazione del software grazie al driver NI-
Daqmx che sincronizza automaticamente chassis
multipli per una semplice programmazione.
Questo nuovo e innovativo metodo di sincroniz-
zazione combinato con le librerie software per
l’elaborazione del segnale di LabView supporta
gli ingegneri che raccolgono e analizzano i risul-
tati, garantendo una più veloce risposta del test
nonché una maggiore efficienza”.
La strumentazione per l’analisi e la validazione
di dispositivi elettronici deve naturalmente saper
anticipare le prestazioni richieste nei test dei
sistemi elettronici allo stato dell’arte. Quali sono
le tecnologie che consentono ai moderni strumenti
di test e misura elettrica di raggiungere un livello
così elevato di prestazioni e quali sono le tecno-
logie per la strumentazione più promettenti per
l’immediato futuro?
D’Amore:
“L’obiettivo principale di uno stru-
mento di misura è quello di essere ‘superiore’ ri-
spetto ai dispositivi o segnali da testare. Per que-
sto motivo le tecnologie utilizzate devono essere
all’avanguardia. Keysight produce internamente
la maggior parte dei chip e dei sotto-sistemi uti-
Giovanni D’Amore, Marketing Brand
Manager - EMEA & India - RF&MW
Products di Keysight Technologies