70 / 100
Ricordano i celebri HP Lab, che hanno fatto un
pezzo consistente della storia tecnologica del
secolo scorso; ora, nella stessa zona della Califor-
nia, a Santa Rosa, sono i Keysight Technologies
Measurement Research che inventano, modellano
e ottimizzano la strumentazione più adeguata per
raccogliere la sfida del Test & Measurement.
Keysight Technologies è diventata operativa nel
2014, come spin off per la parte delle misure elet-
troniche di Agilent Technologies che a sua volta
era stata spin off di HP. Dai suoi Labs e dai suoi
centri di produzione escono strumenti di misura
elettronici, sistemi, software e servizi di utilizzati
in tutto il mondo per le attività di progettazione,
sviluppo, produzione, installazione, messa in ser-
vizio e gestione di apparecchiature elettroniche.
Ne parla con entusiasmo
Giovanni D’A-
more
, responsabile in Emea della Divi-
sione Component test and device characte-
rization di Keysight, che illustra alcune
delle novità presentate al recente IEEE
MTT-S International Microwave Sym-
posium di Phoenix (Arizona) e spiega la
logica che sottende l’approccio dell’azienda alla
strumentazione: “La prospettiva è quella di for-
nire sistemi di misura, non semplici strumenti; per
poter offrire ai clienti soluzioni ai problemi della
attuale contesto dell’elettronica. Oggi la tecnolo-
gia consente di avere gli stessi tipi di componenti
su più applicazioni; ecco allora la risposta che
viene dalla
integrazione
: avere molte più funzio-
nalità nella stessa piattaforma per poter fare tutte
le misure che permettono di analizzare un compo-
nente moderno”.
C’è inoltre la tendenza ad andare verso le
archi-
tetture modulari
, “anche se non è esclusiva e
non soppianterà subito completamente il classico
mercato della strumentazione da banco”.
Analisi di rete
Con questo approccio D’Amore ha presentato i
nuovi
analizzatori vettoriali di reti PNA
, dove
la logica dell’integrazione si manifesta con l’ag-
giunta della nuova funzionalità di analizzatore di
spettro ad alte prestazioni alle famiglie di analiz-
zatori di reti vettoriali (VNA) a microonde PNA e
PNA Serie X. Si tratta di una novità assoluta nel
mercato della strumentazione elettronica, capace
di
ridurre i tempi di test
di un fattore da 10 a
500. L’integrazione di un analizzatore di spettro
all’interno di un analizzatore di reti vettoriale
semplifica i collegamenti al sistema in prova e
permette di risparmiare tempo dando la possibilità
di effettuare misure ad alta velocità sul contenuto
di spurie con lo stesso strumento usato solita-
mente per misurare parametri S, compressione e
distorsione in applicazioni nel campo delle appa-
recchiature satellitari, elettronica per la difesa e
dispositivi wireless.
“Spesso le misure sui segnali spuri richiedono
moltissimo tempo, per cui si è costretti ad accet-
tare un compromesso tra il tempo dedicato ai test
e la loro accuratezza. Grazie alle nuove capacità di
analisi spettrale ad alta velocità, un nostro VNA
può effettuare rapidamente la ricerca di segnali
su una ampia larghezza di banda, velocizzando
l’esecuzione delle misure
fino 500 volte
rispetto
alle tecniche utilizzate finora. I risultati sono con-
frontabili con quelli che si ottengono con gli ana-
lizzatori di spettro e con gli analizzatori di segnali
autonomi attualmente più sofisticati disponibili
sul mercato”.
Digitizer ad alta velocità
Sviluppando l’idea della modularità, un’altra
novità presentata da D’Amore è il
digitalizza-
tore ad alta velocità
da 32 canali per bus AXIe.
Si tratta di un digitalizzatore a 8 bit M9709A, che
TEST & MEASUREMENT
approfondimenti
Giugno 2015
■
Automazione e Strumentazione
70
Mario Gargantini
NOVITÀ DA KEYSIGHT NELLA STRUMENTAZIONE PER TEST DI COMPONENTI
Gli analizzatori vettoriali di reti ora hanno la funzione di analisi
spettrale ad alte prestazioni integrata. Nuove anche le funzioni
dell’acceleratore di misure, che abbattono i tempi di collaudo degli
amplificatori di potenza. E il digitalizzatore ad alta velocità è la
soluzione a più alta densità di canali in formato modulare.
Misure elettroniche
nel segno dell’integrazione
L’acceleratore di misure PXIe
M9451A
Il nuovo analizzatore vettoriale di reti PNA