Automazione e Strumentazione
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Settembre 2014
BREAKING NEWS
primo piano
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ACQUISIZIONE DATI
Le novità della NI Week
In questi giorni è in scena ad Austin in Texas il tradizionale
appuntamento annuale della NI Week, l’evento dedicato alla
progettazione grafica dei sistemi.
Nell’edizione di quest’anno è stata presentata l’ultima
release di LabView – LabView 2014 – che introduce nuove
funzionalità indirizzate a migliorare l’esperienza d’uso in
tutte le applicazioni, dall’acquisizione dati, all’analisi, alla
visualizzazione per “prendere decisioni con il supporto
dei dati reali”. Vi invitiamo a vedere il video dimostrativo
all’indirizzo
L’ultima versione di LabView include 13 caratteristiche per
ottimizzare la produttività del codice e offre nuovi strumenti
come il sistema LabSocket di Bergmans Mechatronics che
fornisce accesso remoto alle applicazioni LabView dal
desktop o da browser web mobile, senza la necessità di plug-
in del browser o di un motore run-time lato client.
LabView 2014 supporta il nuovo sistema di acquisizione dati
CompactDAQ a 4 slot e CompactRIO, oltre agli strumenti
progettati via software come l’oscilloscopio a 8 canali ad alta
risoluzione PXI Express e al Virtualbench, il nuovo strumento
all-in-one software-based presentato poche settimane fa.
Altra novità è il nuovo controller CompactDAQ a 4 slot che
integra processore,
condizionamento di
segnale e I/O in un solo
sistema, consentendo
a ingegneri e tecnici
di ridurre i costi e
la complessità del
sistema incrementando
l’accuratezza delle
misure.
Il controller CompactDAQ è spinto da un processore Intel
Atom dual-core che può funzionare sia con Windows
Embedded 7 o con NI Linux Real-Time per la massima
affidabilità di sistema. In tal modo gli utilizzatori possono
integrare il codice di sistemi di misura già esistenti nei nuovi
controller.
“Abbiamo progettato il nuovo controller CompactDAQ
sulla base dei feedback ricevuti dai clienti, rendendolo più
compatto, meno costoso e più robusto”, ha affermato Stefanie
Breyer, direttore R&D per l’acquisizione dati di NI. “Grazie
al processore Intel Atom 3800 all’interno del controller, i
nostri clienti possono ottenere elaborazioni potenti e misure
accurate”.
Terza novità è il lancio della nuova serie di sistemi per i test
automatizzato basati su PXI NI Semiconductor Test System
(STS).
L’architettura modulare aperta di STS consente di integrare nei
sistemi di test, tradizionalmente chiusi, anche la strumentazione
PXI esistente. Tutto ciò si rivela particolarmente importante per
il test RF e a segnale misto, dal momento che le esigenze
delle ultime tecnologie di semiconduttori oltrepassano spesso
la copertura di test fornita dall’ATE tradizionale.
La serie STS include tre modelli diversi chiamati T1, T2 e T4,
che includono rispettivamente, una, due e quattro chassis PXI.
