La versatilità del boundary scan per programmazione e debug

 
Pubblicato il 28 marzo 2011

Lo standard JTAG IEEE 1149.1, definito da Joint Test Action Group, originariamente sviluppato per facilitare il collaudo strutturale delle schede assemblate, nonché per collaudare le schede nelle quali è impossibile realizzare un contatto fisico tra i piedini dei componenti e una sonda esterna, diventa particolarmente importante nelle schede con componenti SMD e BGA.

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