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NIDays ha festeggiato con successo i suoi primi 15 anni

Pubblicato il 10 marzo 2008

Si è svolta il 27 febbraio 2008 a Roma la quindicesima edizione italiana di NIDays e, anche quest’anno, la forte adesione all’annuale conferenza mondiale dedicata alla Strumentazione Virtuale e al Graphical System Design, ha confermato l’interesse degli addetti ai lavori e del mondo accademico nei confronti di questo evento. Sono stati infatti oltre 450 i visitatori tra ingegneri, tecnici, sviluppatori e professori, desiderosi di scoprire gli ultimi sviluppi nei settori del controllo, del design, dell’automazione, della misura e dell’acquisizione dati, che hanno partecipato alle conferenze e alle sessioni tecniche organizzate nel corso della giornata e hanno visitato l’area espositiva di 1.000 mq e le 30 postazioni dimostrative. Quindici anni rappresentano una conferma dell’impegno costante di National Instruments nella condivisione e diffusione di esperienze e conoscenze che in questo suo percorso si avvale di una rete di contatti che vede coinvolti partner, aziende clienti e le principali testate giornalistiche di settore.

Durante la mattinata si è svolta l’ormai tradizionale premiazione del Premio Nicola Chiari per la Migliore Applicazione di Misura e Automazione 2008, consegnato da Nadia Albarello, marketing communications manager di NI Italy, insieme a Valerio Alessandroni, direttore tecnico di Automazione Oggi e di LabView World, in rappresentanza dello sponsor Edizioni Fiera Milano, e rispettivamente da Eric Starkloff, Francis Griffiths e Tim Dehne per NI Corporation.

Primo classificato: Università di Trento, Dipartimento di Ingegneria – R. Fedrizzi –
“Il Campo Eolico Sperimentale di Trento – Sistema di acquisizione Dati da Sensori Distribuiti su Turbine Eoliche”. Secondo classificato: Bimal Automazioni – A. Damiani – “Sviluppo di un Sistema di Test per le Pompe Motorizzate ed i Serbatoi dell’Airbus A380 Ebh”. Terzo classificato: Sitem, Ansaldo Energia – A. Lugli, P. Bruzzone, G. Cresta, M. Manarini, A. Oldrati, M. Valgimigli – “DIAGEN, Sistema di Diagnostica Remota per Generatori Elettrici di Grande Potenza”

La sessione plenaria, apertasi con la keynote di Tim Dehne, senior vice president Ricerca e Sviluppo di NI con una panoramica sullo stato dell’arte e sulle più recenti evoluzioni del Graphical System Design – ha offerto un’ampia visione delle tecnologie concorrenti, partendo dal superamento della legge di Moore, attraverso i processori multicore, fino ad arrivare alle piattaforme risultanti dall’integrazione di queste tecnologie. Messaggio chiave del suo intervento: la combinazione delle nuove tecnologie concorrenti e la progettazione grafica di sistemi consente di realizzare sistemi di test a elevate prestazioni in grado di soddisfare le crescenti richieste di prodotti di alta qualità. In altre parole, il futuro dipende dalla possibilità di trarre vantaggio dai benefici del parallelismo.

A seguire, Alessandro Masi del Cern di Ginevra ha illustrato il sistema di controllo in tempo reale dei collimatori Large Hadron Collider, il nuovo acceleratore di particelle gestito mediante la strumentazione modulare PXI di National Instruments.

Nel pomeriggio è stato dato spazio all’aspetto pratico: quattro moduli composti da quattro sessioni tecniche ciascuno si sono svolte in parallelo per dare la possibilità ai partecipanti di condividere esperienze e confrontarsi su problematiche comuni sulla base delle proprie esigenze di aggiornamento e formazione. Tra le novità di quest’anno, oltre alle 16 sessioni tecniche, due nuove aree pratiche: la “LabView Zone”, che ha consentito di utilizzare direttamente LabView 8.5 e tutte le novità della nuova release in abbinamento al sistema di acquisizione dati Usb CompactDAQ, e l’area “Prove Pratiche di Automazione”, dove toccare con mano le potenzialità del Programmable Automation Controller CompactRIO.

Le sessioni tecniche si sono articolate in quattro macro aree d’interesse:
– Tecnologie Software: focus della sessione le nuove versioni di LabV 8.5 e di LabWindows/CVI 8.5, con la possibilità di sfruttare le tecnologie di ultima generazione tra cui la programmazione orientata agli oggetti.
– Progettazione, prototipazione e controllo: gli argomenti di questa sessione hanno illustrato alcune tra le novità più attese del settore machine vision, tra cui l’implementazione di LabView sulla nuova Smart Camera per la creazione di un sistema di visione industriale a elevate prestazioni. Ampio spazio è stato riservato anche alle prerogative dell’approccio meccatronico nella progettazione di macchine. Ha concluso la sessione una presentazione delle tecnologie offerte da National Instruments per la progettazione e la simulazione basate su modelli.
– Collaudo e acquisizione dati: argomento centrale della sessione sono state le più recenti tecnologie di acquisizione dati e collaudo: PXI Express, multicore, elaborazione FPGA e acquisizione dati “intelligente”, che offrono la possibilità di effettuare test basati su software, in altre parole, la strumentazione virtuale che si pone come punto di riferimento per le operazioni di test e misura.
– Soluzioni e applicazioni: questa sessione tecnica ha offerto una panoramica di case study sviluppate dagli Alliance Partner di National Instruments e da utenti finali, quali Robotronix, Wintek, Geas, Pragma Engineering, Università Politecnica delle Marche ed Enel Produzione.

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