Keithley Instruments: ACS V5.0 per il test di semiconduttori di elevata potenza

Keithley Instruments introduce numerose migliorie nel software ACS (Automated Characterization Suite) che supporta la gamma sempre più ampia di soluzioni per la caratterizzazione dei semiconduttori ad alta potenza della società. Il package ACS è ottimizzato per applicazioni di collaudo parametrico automatizzato a livello di wafer, tra cui caratterizzazione automatizzata, analisi di affidabilità e test KGD (Known Good Die). La release 5.0 di ACS sfrutta le risorse delle SMU (Source Measurement Unit – unità di erogazione/misura) modd. 2651A (alta corrente) e 2657A (alta tensione) di Keithley per consentire il collaudo automatizzato a livello di wafer di semiconduttori ad alta potenza – MOSFET, IGBT, BJT, diodi e molti altri ancora.

Keithley ha apportano un gran numero di migliorie alla versione 5.0 di ACS tra cui librerie di dispositivi ad alta potenza progettate per l’uso con le SMU modd. 2651A (fino a 50A o 100A quando si collegano due unità) e 2657A (fino a 3.000V) che supportano il collaudo di componenti di potenza a più terminali in abbinamento con le SMU a bassa potenza della serie 2600B o l’analizzatore parametrico mod. 4200-SCS per accelerare e semplificare la creazione di moduli e sequenze per il collaudo di un’ampia gamma di dispositivi a semiconduttore di potenza tra cui MOSFET, IGBT, BJT e diodi. Sono previsti il supporto per la scansione hardware, il riconoscimento e la gestione della configurazione delle SMU modd. 2651A e 2657A ad alta potenza per consentire agli utenti di collegare velocemente questi strumenti a un PC, confermare la connessione e avviare il collaudo. Presente il supporto per le SMU della serie 2600 equipaggiate con il bus di comunicazione TSP-Link che sfrutta il processore TSP (Test Script Processor) presente a bordo delle SMU per creare un ambiente multiprocessore che garantisce un elevato throughput nel test parallelo, accelerando e semplificando contemporaneamente lo sviluppo di progetti di test. Presenti progetti campione per test come ad esempio il collaudo di affidabilità a livello di wafer (WLR) ad alta tensione realizzati a partire dall’ampia gamma di funzioni relative al test di affidabilità a bassa potenza disponibili nelle precedenti release di ACS che mettono a disposizione degli utenti un ottimo punto di partenza per modificare o creare nuovi test in tempi brevi. Inoltre, supporto del package di potenza mod. 4200-CVU-PWR per misure C-V a ±200V con l’analizzatore parametrico mod. 4200-SCS che consente l’esecuzione di un’ampia gamma di misure I-V e C-V necessarie per la caratterizzazione dei componenti di potenza a semiconduttore.

ACS riunisce più strumenti utilizzati per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore e le misure parametriche all’interno di un ambiente di collaudo unificato e ottimizzato in termini di velocità, flessibilità e produttività per le operazioni di collaudo e analisi. Un’interfaccia utente grafica (GUI) di immediata comprensione semplifica la configurazione degli strumenti di test, l’impostazione dei parametri di misura, l’esecuzione di misure I-V e la visualizzazione dei risultati. Gli utenti possono effettuare tutte le operazioni necessarie – dalla creazione di un nuovo setup di collaudo alla caratterizzazione di nuovi dispositivi – in un tempo nettamente inferiore rispetto a quello richiesto dagli approcci tradizionali. Senza dimenticare che ACS fornisce tutti gli strumenti richiesti per la predisposizione (set up) del test, l’analisi dei dati e l’esportazione dei risultati – all’interno del medesimo ambiente. ACS è stato progettato per effettuare il collaudo con prober automatici o semi-automatici. Keithley propone inoltre ACS Basic Edition che permette di eseguire la caratterizzazione di dispositivi a semiconduttore con prober manuali o fixture di test.

Keithley: www.keithley.it

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