È #tuttoconnesso a NIDays 2016

Dalla rivista:
Automazione Oggi

 
Pubblicato il 15 febbraio 2016

Il 18 febbraio torna l’annuale appuntamento con NIDays, il Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi di National Instruments, che, giunto alla 23ª edizione, si terrà a Pero (Milano) presso l’ATAhotel Expo Fiera.

NIDays riunisce oltre 600 tra ingegneri, tecnici, professori e ricercatori in Italia da una varietà di settori, e coinvolge utenti e Partner NI per condividere esperienze di successo e ispirare le innovazioni future. Quest’anno NIDays si pone l’obiettivo di illustrare concretamente le tecnologie necessarie al funzionamento dell’Internet of Things e di mostrare come la piattaforma NI ne supporterà la realizzazione.

La keynote del pomeriggio vedrà protagonista James Truchard, CEO di National Instruments, che introdurrà i principali progressi raggiunti finora in diversi ambiti della ricerca, arricchita da diverse testimonianze di professionisti del settore. Seguirà Alberto Sangiovanni-Vincentelli, professore ordinario presso il Dipartimento di Ingegneria Elettrica e Scienza dei Calcolatori all’Università di Berkeley. Nel suo duplice ruolo chiave nel mondo dell’industria e della ricerca accademica, offrirà un punto di vista privilegiato sui trend evolutivi dei Cyber-Physical System e dell’Internet of Things.

Le sessioni tecniche permetteranno ai partecipanti di scoprire le novità e gli aggiornamenti su: LabView, Monitoraggio e controllo embedded, Test & RF, Acquisizione dati, Software defined radio e le certificazioni National Instruments. NIDays 2016 metterà a disposizione dei partecipanti quattro aree pratiche per toccare con mano i prodotti National Instruments: LabView data logging zone, LabView RIO zone, Software defined radio zone e Academic aone.

Per consultare l’agenda completa e per iscriverti gratuitamente, visita nidays.it

agenda_NIDays2016



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