Virtual Automated Test Summit 2008 è l’evento virtuale annuale dedicato alle nuove tendenze e strategie nel settore del test automatizzato per la progettazione di sistemi di test flessibili ed efficienti. Questo evento gratuito si svolgerà dal vivo martedì 5 giugno dalle ore 10:00 su una piattaforma virtuale: durante l’intera giornata sarà possibile assistere alla presentazione delle keynote (in lingua inglese con sottotitoli in italiano), partecipare attivamente alle numerose sessioni tecniche e interagire dal vivo con gli espositori di alcune delle maggiori aziende di test grazie a un ambiente espositivo virtuale. Sarà anche possibile richiedere informazioni attraverso una chat dal vivo con consulenti tecnici di National Instruments in lingua italiana. Tutte le risorse rimarranno a disposizione dei visitatori della rete per altri 90 giorni.