National Instruments organizza la quarta edizione dell’evento Automated Test Summit, con sessioni tecniche dedicate alle nuove tendenze e strategie per la progettazione di sistemi di test flessibili ed efficienti. Questa nuova edizione dell’evento annuale si sposta on-line per offrire un comodo accesso alle più recenti innovazioni tecnologiche in tema di progettazione di sistemi di test automatizzati.
L’evento si svolgerà live martedì 27 novembre su una piattaforma virtuale: durante l’intera giornata sarà possibile assistere alla presentazione delle keynote (in lingua inglese), partecipare attivamente alle numerose sessioni tecniche e interagire dal vivo con gli espositori di alcune delle maggiori aziende di test grazie a un ambiente espositivo virtuale. Sarà anche possibile richiedere informazioni in lingua italiana, attraverso una chat alla quale saranno collegati consulenti tecnici di National Instruments. La partecipazione all’evento è gratuita. Tutte le risorse rimarranno in rete, a disposizione dei visitatori per 90 giorni.
“Ogni anno National Instruments collabora con le aziende leader nei mercati delle tecnologie e dei prodotti ATE (Automated Test Equipment) per la buona riuscita dell’Automated Test Summit. L’evento rappresenta la più avanzata occasione di aggiornamento sulle strategie e le tecnologie nel settore del test automatizzato, rivolto a tecnici e management delle principali aziende di elettronica”, ha dichiarato Kevin Bisking, Automated Test Product Manager di National Instruments. “L’idea di rendere accessibile dal Web questo evento è nata a fronte del crescente numero di impegni del pubblico di tecnici ai quali è dedicato il summit. I partecipanti avranno la possibilità di disporre di “best practice” per applicazioni di test rimanendo comodamente seduti alla propria scrivania”.
Aziende del calibro di Microsoft, Intel, Tektronix, Averna e BAE Systems parteciperanno all’evento per condividere competenze tecniche ed esperienze sul campo. Gli argomenti dell’evento di quest’anno includono:
– strategie per la progettazione di sistemi di test a costi ridotti,
– ottimizzazione dei sistemi di test,
– tattiche per sfruttare le nuove tecnologie PC nel collaudo,
– strumenti di progettazione per la creazione di sistemi di test riutilizzabili.
I partecipanti potranno registrarsi all’evento “Automated Test Summit 2007” on-line martedì 27 novembre, a partire dalle ore 10.00 collegandosi all’indirizzo sotto riportato.