Il 18 febbraio torna l’annuale appuntamento con NIDays, il Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi di National Instruments, che, giunto alla 23ª edizione, si terrà a Pero (Milano) presso l’ATAhotel Expo Fiera.
NIDays riunisce oltre 600 tra ingegneri, tecnici, professori e ricercatori in Italia da una varietà di settori, e coinvolge utenti e Partner NI per condividere esperienze di successo e ispirare le innovazioni future. Quest’anno NIDays si pone l’obiettivo di illustrare concretamente le tecnologie necessarie al funzionamento dell’Internet of Things e di mostrare come la piattaforma NI ne supporterà la realizzazione.
La keynote del pomeriggio vedrà protagonista James Truchard, CEO di National Instruments, che introdurrà i principali progressi raggiunti finora in diversi ambiti della ricerca, arricchita da diverse testimonianze di professionisti del settore. Seguirà Alberto Sangiovanni-Vincentelli, professore ordinario presso il Dipartimento di Ingegneria Elettrica e Scienza dei Calcolatori all’Università di Berkeley. Nel suo duplice ruolo chiave nel mondo dell’industria e della ricerca accademica, offrirà un punto di vista privilegiato sui trend evolutivi dei Cyber-Physical System e dell’Internet of Things.
Le sessioni tecniche permetteranno ai partecipanti di scoprire le novità e gli aggiornamenti su: LabView, Monitoraggio e controllo embedded, Test & RF, Acquisizione dati, Software defined radio e le certificazioni National Instruments. NIDays 2016 metterà a disposizione dei partecipanti quattro aree pratiche per toccare con mano i prodotti National Instruments: LabView data logging zone, LabView RIO zone, Software defined radio zone e Academic aone.
Per consultare l’agenda completa e per iscriverti gratuitamente, visita nidays.it